可視光・レーザー基板検査装置
YSj-12
オフライン可視光・レーザー基板検査装置
YSi-S
X線・可視光・レーザー基板検査装置
YVi-X2H
レーザー・赤外線・
可視光基板検査装 
YVi-LH/MH
卓上型レーザー・赤外線・
可視光基板検査装置
YVi-DT
卓上型L基板用レーザー・赤外線・
可視光基板検査装置
YVi-DTL
 
    プリント基板検査装置 画像検査装置
 X線・レーザー・赤外線・可視光併用基板検査装置 YVi-X2H
 X線・レーザー・赤外線・可視光併用基板検査装置 YVi-X2H
特    徴
超高速検査 150×150mm基板で6秒で処理
   光学検査250ms/cm&sup2:/1shot Max.光学3shot+X線1shot
3メジャー検査  可視光・赤外線・X線の3種を使用でき、
   目的に合わせた最適検査手段を適用
光学検査 上中下、三段のドーム照明を採用
IR(赤外線)は硬化後の異物検査に最適
X線検査   BGAの半田接合部、QFPのバックフィレットに最適
新検査アルゴリズム(VADMIC)を搭載
QAオプション・QAトレース対応モデル
マウンターから一発データ変換が可能で共通ライブラリ管理が可能
NGマーキングユニットが使用可能

基本仕様
対象基板サイズ L460 X W410mm 〜 L50 X W50mm
基板厚 0.4〜3.0mm
基板搬送方向 左→右(標準)、右→左(オプション)
検査速度 0.19秒/1視野、1視野32 X 24mm(照明1光源による最適条件)
0.39秒/1視野、(X線+光学検査)
解像度 10μm/20μm
硬化後の
検査項目
欠品、位置ずれ、角度ずれ、誤品、浮き、極性違い、ブリッジ、文字認識、
異物、フィレット
装置寸法 L1,350 X D1.580 X H1,470mm
装置重量 約1,920Kg
 
ヤマハのプリント基板 実装装置 ヤマハ マウンターはチップマウンターと呼ばれる装置の一種で、モジュールマウンターとか、
モジュラーマウンター、中型機、中速機、汎用マウンター、直交ロボット型マウンター等とも呼ばれ、現在プリント基板 実装装置
の主流になっています。
 

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