可視光・レーザー基板検査装置
YSj-12
オフライン可視光・レーザー基板検査装置
YSi-S
X線・可視光・レーザー基板検査装置
YVi-X2H
レーザー・赤外線・
可視光基板検査装 
YVi-LH/MH
卓上型レーザー・赤外線・
可視光基板検査装置
YVi-DT
卓上型L基板用レーザー・赤外線・
可視光基板検査装置
YVi-DTL
 
    プリント基板検査装置 画像検査装置
 レーザー・赤外線・可視光併用基板検査装置 YVi-LH/MH
 レーザー・赤外線・可視光併用基板検査装置 YVi-LH/MH
特    徴

高さ測定レーザー変位計(オプション)が搭載可能で上中下、
   三段の
ドーム照明を採用した光学検査とIR(赤外線)による
   検査を合わせ3種類の検査が可能

ハンダ硬化前の検査で、硬化後の実装品質を確保
リードの浮きなどの検査精度が向上
新開発の撮像システムで高速撮像、高速画像処理
   超高速27ms/cu 150mm □基板を6秒で処理

LHは大型基板 460X 410mmに対応、MHは中型基板330×250mmに対応

基板上下高さ制限48mm(オプション)
新検査アルゴリズム「VADMIC」を搭載 初心者でもプログラム
   作成時間を短縮できます
ゆがみの少ないテレセントリックレンズ
高解像度200万画素のCCDカメラ
高剛性の専用ベースワゴン(オプション)も用意
QAオプション・QAトレース対応モデル
マウンターから一発データ変換が可能で共通ライブラリ管理が可能
NGマーキングユニットが使用可能

基本仕様
機種 YVi-LH YVi-MH
対象基板サイズ L460×W410mm 〜 L50×W50mm L330×W250mm〜L50×W50mm
基板厚 0.5〜2.0mm
基板搬送方向 左→右(標準)、右→左(オプション)
基板搬送高さ 900±20mm
検査速度 0.19秒/1視野、1視野30.4 ×22.8mm(照明1光源による最適条件)
解像度 9.5μm/19μm
印刷検査項目 印刷ずれ、にじみ、かすれ、ブリッジ、ハンダ量(ヤマハメタルスキージの場合)
部品検査項目 欠品、位置ずれ、角度ずれ、部品、浮き、極性違い、ブリッジ、文字認識、
異物、フィレット、リードの浮き
装置寸法 L1,206×D1,250×H1,350mm L1,000×W961×H1,383(カバー上面)
装置重量 約800kg 約480kg
 
ヤマハのプリント基板 実装装置 ヤマハ マウンターはチップマウンターと呼ばれる装置の一種で、モジュールマウンターとか、
モジュラーマウンター、中型機、中速機、汎用マウンター、直交ロボット型マウンター等とも呼ばれ、現在プリント基板 実装装置
の主流になっています。
 

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