| IC 測試用ＨＡＮＤＬＥＲ －H1 | |
| ●特點 ・ 在此業界，首次開發出不需要轉換器的Ｈａｎｄｌｅｒ ・ 精致型畫像識別確認位置系統，高精度±２５μｍｍ ・ 繼而減少對元件的衝擊 ・ 大大降低元件的損傷度 ・ 因為移動中不需轉換器，轉接器所以縮短了作業時間 ・ 同時更是超強降低了堵塞率 ・ 高精度剛性設計和輔正技術，實現了低震動高耐久性 ・ 最適于ＷＬＣＳ等微小，精密元件 ●規格 ・適用元件：BGA，CSP，QFN，LCC，等 ・規格：□2.5～□20mm（□2.5～□40mm） ・料架規格：W120～150ｘL280～335ｘH4～8mm ・插試時間：最短0.5秒 ・測試速度：max.3600個/H ・主機尺寸：W1650xD1530xH1800mm(不含警示燈) |
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| IC 測試用ＨＡＮＤＬＥＲ －Ｖ４ | |
| ●特點 ・ 在此業界，首次開發出不需要轉換器的Ｈａｎｄｌｅｒ ・ 精致型畫像識別確認位置系統，高精度達0.4ｍｍ ・ 繼而減少對元件的衝擊 ・ 大大降低元件的損傷度 ・ 因為移動中不需轉換，轉接器所以縮短了作業時間 ・ 同時更是超強降低了堵塞率 ・ 高精度剛性設計和輔正技術，實現了低震動高耐久性 ●規格 ・適用元件：BGA，CSP，QFN，LCC，ＷＬＣＳＰ等 ・規格：□１.5～□20mm（□１.5～□40mm） ・料架規格：W120～155ｘL280～335ｘH4～8mm ・插試時間：最短0.5秒 ・測試速度：max.5000個/H ・主機尺寸：W1640xD1970xH1745mm(不含警示燈) |
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